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AM0 電池串自動(dòng)測(cè)試分選機(jī)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介： AM0 I-V電池自動(dòng)分選機(jī)該設(shè)備主要用來(lái)模擬太陽(yáng)光和采集晶硅光伏電池的伏安特性曲線，設(shè)備采用長(zhǎng)弧脈沖氙燈瞬態(tài)光源，光源等級(jí)滿(mǎn)足IEC60904-9 ed3 A+A+A+等級(jí)，可測(cè)量常規(guī)多晶、單晶Perc、 Topcon、BC、異質(zhì)結(jié)等高容性電池的I-V 曲線，P-V 曲線，輻照度線，短路電流，開(kāi)路電壓，峰值功率，峰值功率點(diǎn)電壓、電流，填充因子，轉(zhuǎn)換效率，串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻等。
產(chǎn)品主要參數(shù)
參考標(biāo)準(zhǔn)
ECSS-E-ST-20-08C Rev.1
光源類(lèi)型
氙燈瞬態(tài)光源
光譜范圍
300-1800nm
光源等級(jí)
光譜匹配度 0.75-1.25 A
輻照度不均勻度 ≤2% A
輻照度不穩(wěn)定度 ≤2% A
輻照度不均勻度 ≤2% A
輻照度不穩(wěn)定度 ≤2% A
輻照度范圍
1367W/㎡±10%
測(cè)試面積
? 2000*500mm
? 可定制其他尺寸
? 可定制其他尺寸
脈沖寬度
10-100ms，每1ms步進(jìn)可調(diào)
定位方式
光學(xué)定位
測(cè)試技術(shù)
標(biāo)配線性掃描、高級(jí)遲滯算法、集成逐次逼近法（SAT）、智能測(cè)試法（IAT）、峰值保持測(cè)試功能
測(cè)試電池
砷化鎵電池、多結(jié)砷化鎵電池
可增配項(xiàng)
? EL測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試電池EL缺陷
? AOI測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試電池外觀缺陷
? 稱(chēng)重系統(tǒng)，測(cè)量電池重量
? 膜厚測(cè)量，測(cè)量電池片膜厚
? AOI測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試電池外觀缺陷
? 稱(chēng)重系統(tǒng)，測(cè)量電池重量
? 膜厚測(cè)量，測(cè)量電池片膜厚
